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老化測(cè)試

Burn-in Test

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353050544a4f445a6c4d4c554e79307762692f7a35413d3d.png 車(chē)載,計(jì)算中心,AI計(jì)算,通信,網(wǎng)絡(luò)等領(lǐng)域芯片對(duì)可靠性要求極高,芯片量產(chǎn)時(shí)需要做100%老化測(cè)試。

353050544a4f445a6c4d4c554e79307762692f7a35413d3d.png 芯云半導(dǎo)體有豐富的老化測(cè)試(Burn In Test)經(jīng)驗(yàn),可提供從老化板/socket設(shè)計(jì)/加工服務(wù),以及Burn In程序的開(kāi)發(fā)和導(dǎo)入服務(wù)。

553134615867585274613268376378736c417a3164773d3d.png 優(yōu)勢(shì):

353050544a4f445a6c4d4c554e79307762692f7a35413d3d.png 國(guó)產(chǎn)化機(jī)臺(tái)&Tooling,成本競(jìng)爭(zhēng)力強(qiáng)

353050544a4f445a6c4d4c554e79307762692f7a35413d3d.png 支持更多site, 更大功耗

353050544a4f445a6c4d4c554e79307762692f7a35413d3d.png 支持自動(dòng)上下料